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HX8N0系列全自动探针台设备专业应对8寸的晶圆级各类器件的性能测试，可针对不同晶圆测试，可配备相应的仪器仪表，进行I-V、C-V、光信号等特性分析，设备功能丰富，可匹配多种测试应用环境，可升级大功率晶圆测试、射频测试、全自动测试并可加载温控系统，满足客户在高低温环境下的各种晶圆器件性能测试需求。
HX5N0系列全自动探针台是专业综合型高效的全自动自动晶圆探针台，具有节省空间，高效率等特点，适用于4英寸、5英寸晶圆，包含二极管，三极管，MOSFET管、光电器件、传感器和垂直结构芯片之测量，可选配多针测试功能，可实现多颗同时测量之要求，提高机器的测试产能。
